Desde la Gerencia de Metrología y Calidad y el Sistema Interamericano de Metrología (SIM), los invitamos a participar de la conferencia “Metrología para la Transformación Digital” a realizarse el 14 de febrero desde las 8h45 (11h45 UTC) hasta las 12h00 (16h00 UTC) en el Auditorio del Parque Tecnológico Miguelete (PTM).
La transformación digital es un proceso en constante evolución que resulta central para la competitividad de las economías. Para intercambiar información sobre avances y retos que nos presenta este nuevo paradigma, invitamos a los Institutos Nacionales de Metrología, laboratorios de calibración y a la industria a compartir sus experiencias.
Durante el encuentro, se presentarán disertaciones de especialistas sobre Internet de las Cosas, nube metrológica e inteligencia artificial. También se pondrán en discusión los cambios que acompañan este proceso, tanto en relación a los conceptos como a servicios, usos, aplicaciones y a su implementación conjunta entre los diferentes actores.
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Agenda
| Hora | Tema | Presentador |
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11h45 UTC |
Acreditación |
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12h10 UTC |
Mensaje de bienvenida |
Héctor Laiz (INTI) y Javier Arias (CENAMEP) |
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12h40 UTC |
“Hacia una IA confiable: desafíos en la interpretabilidad y cuantificación de la incertidumbre” |
Raymundo Albert y Edgardo Marchi (INTI - Argentina) |
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13h00 UTC |
“Evaluación de certificados de calibración mediante IA” |
Silvina Aued y Andrés Torán (INTI - Argentina) |
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13h20 UTC |
“Transformación Digital: Estrategias y Retos en Colombia” |
Mauricio Murillo Benítez (Handshake - Colombia) |
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13h40 UTC |
Descanso |
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14h10 UTC |
“Tecnología de nube piloto con red de sensores IoT THB para la región SIM” |
Aldo García Gonzalez (CENAM - México) |
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14h20 |
“Plataforma IoT diseñada para la rápida creación de soluciones de IoT” |
Joaquín Cervera (CloudStudio - Argentina, Charla Virtual) |
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15h00 UTC |
Cierre del evento |