SESIONES SIMULTÁNEAS S1
   
S1-A. NANOTECNOLOGÍA 
S1A1. Nanometrología: Soporte de la Nueva Revolución Industrial 

Presentación

R. Lilia Centeno Sánchez / University of Cambridge, Reino Unido

S1A2.Determinación por Cromatografía de Líquidos de Alta Resolución con Detección Electroquímica de Dopamina, Empleando Electrodos
de Carbón Vítreo Modificados con Compositos a Base de Dendrímeros PAMAM G4.0-OH y Materiales Nanoparticulados 

Presentación

Erika Bustos Bustos / CIDETEQ, México 


S1-B. METROLOGÍA DE COORDENADAS

S1B1. Association of Measured Data to Geometrical Features

Presentación

Michael Krystek / PTB, Alemania

S1B2. Fitting Multidimensional Measurement Data to Tolerance Zones Having Regard for the Uncertainties of Measurements

Presentación

Kostadin Doytchinov / NRC, Canadá


S1-C. MEDICIONES ELECTROMAGNÉTICAS

S1C1. Toward a Determination of RK in Terms of the New LNE Calculable Cross Capacitor

Presentación

Thevenot Olivier / LNE, Francia

S1C2. Disminución de Ruido Electromagnético en el Patrón de Tensión Eléctrica Continua con base en el Efecto Josephson del CENAM

Presentación

Carlos David Avilés Castro / CENAM,México


S1-D. RADIACIÓN IONIZANTE

S1D1. Resultados del ININ en las Comparaciones SIM.RI(I)-K4 para Dosis Absorbida en Agua y SIM.RI(I)-K1 para Kerma en Aire en Haces de 60Co

Presentación

Víctor Manuel Tovar Muñoz / ININ, México

S1D2. Ionizing Radiation Metrology Laboratory from IFIN-HH, Romania Presentation

Presentación
Sorin Bercea / IFIN-HH, Rumania